一裂片后的OLED Cell, 在還沒Bond Driver IC之前, 將所有正極短路, 所有負極亦短路(以PM型為例), 而后在該二端點上加上正及負的電壓做測試 該交流測試電壓的大小, 頻率, 及週波數皆為Programmable(可在主控PC上設定), 在一次的交流測試后,緊接著為量測段, 使用者先設定反偏電壓, HA570會對每一片面板量測其反偏逆電流並記錄, 解析精度至10nA. 無論順向或逆向, HA570均提供限流保護, 可使某些先期不穩定的產品不至于斷電而有可能在持續的交流測試中復元. OLED Cell是置于治具—電木Tray盤上, 一個Tray可置放30pc Cells, 一爐共可容納 : 24 Tray x 30 Cell = 720 Cell/爐.

Aging Process

Item Parameter Remark Total cycle Programmable 1~100 　 Tt 1~250 min., 1 min. step Fwd Voltage Tm 60 sec. Measurement cycle time Vft 0~+20V, 0.1V step Set for each cycle/each tray Vrt 0~-20V, 0.1V step Set for each cycle/each tray Vrm 0~-20V, 0.1V step Reverse voltage of Tm, Set for each cycle f 1~100Hz, 1 Hz step 1/T, Frequency of Tt Duty cycle 5%~100%, 1% step Tf/T, rising time/falling time < 10uS If 200mA max. Output current

Measurement

Item Parameter Remark IF 0.1mA~200mA, 0.1mA step Fwd current Ir Accuracy： 1. 10nA~1uA：10nA 2. 1uA~100uA：5% Static-state Leakage Current

Current Limit

Item Parameter Remark If current limit 200mA Set for each cell IR current limit 200mA Set for each cell

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